МЕНЮ

Стр.
Выпуск 4, 2021
5-14
Проблемные вопросы оценки стойкости электронной компонентной базы к воздействию поглощенной дозы ионизирующего излучения космического пространства

К.И. Таперо

АО «Научно-исследовательский институт приборов»
г. Лыткарино, Московская обл., Россия

Рассмотрено текущее состояние методов испытаний и оценки стойкости изделий электронной компонентной базы (ЭКБ) к воздействию ионизирующих излучений космического пространства в части дозовых эффектов. Обозначен ряд особенностей и проблемных вопросов в данной области: раздельное моделирование ионизационных и структурных дозовых эффектов; наличие различных методов ускоренных испытаний с учетом эффектов низкоинтенсивного облучения, дающих разные результаты; отсутствие методов определительных испытаний с учетом совместного действия ионизационных и структурных эффектов; возможность неаддитивного характера взаимодействия ионизационных и структурных эффектов, что не учитывается существующим методическим обеспечением испытаний. Также рассмотрены проблемные вопросы, связанные с применением оценки соответствия ЭКБ по результатам испытаний блоков аппаратуры, а также аналитической оценки соответствия ЭКБ заданным требованиям по стойкости.

Ключевые слова: электронная компонентная база, ионизирующее излучение космического пространства, радиационные испытания, дозовые эффекты.
15-18
Оптимизация методики испытаний изделий электронной техники на импульсную электрическую прочность

В.И. Ванин

АО «Российский научно-исследовательский институт «Электронстандарт»
г. Санкт-Петербург, Россия
e-mail: v-vanin@mail.ru

Предложена методика испытаний изделий электронной техники (ИЭТ) на импульсную электрическую прочность, позволяющая значительно уменьшить необходимое для испытаний количество ИЭТ и объём измерений их параметров в процессе испытаний.

Ключевые слова: изделия электронной техники, микросхемы, импульсная электрическая прочность, одиночный импульс напряжения, активный и пассивный электрические режимы испытаний микросхем.
19-23
Влияние сопутствующего импульсного напряжения на сечение одиночных сбоев в микросхемах СОЗУ при воздействии нейтронов энергии 14 МЭВ

О.В. Ткачёв, А.С. Кустов, К.Д. Кокшарова

ФГУП «Российский Федеральный Ядерный Центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. академ. Е.И. Забабахина»
г. Снежинск, Челябинская область, Россия
e-mail: dep5@vniitf.ru

В работе представлены результаты исследований реакции микросхемы СОЗУ при совместном воздействии импульсов напряжения и стационарного потока нейтронов с энергией 14 МэВ. Показано, что сечение одиночных сбоев в микросхеме памяти, вызванных нейтронным облучением, зависит от частоты подаваемых импульсов напряжения и температуры образцов.

Ключевые слова: микросхема, СОЗУ, стационарный поток нейтронов, одиночные сбои, релаксационные процессы, энергия активации.
24-27
Определение срока службы радиационно-стойкой аппаратуры для задачи мониторинга морской акватории

Ф.Ф. Незамутдинов1, С.А. Филатов2

1АО «Концерн «НПО «Аврора»
г. Санкт-Петербург, Россия
2АО «Научно-исследовательский институт приборов»
г. Лыткарино, Московская обл., Россия
e-mail: SAFilatov@niipribor.ru

Рассмотрен вариант решения задачи мониторинга морской акватории с помощью группы автономных необитаемых подводных аппаратов (АНПА). Для определения предельного срока службы радиационно-стойкой аппаратуры АНПА в условиях поиска аномалий проведены испытания основных представителей аппаратуры АНПА для определения уровня стойкости на воздействие специальных факторов. Построена модель определения срока службы существования АНПА по полученному предельному уровню, спрогнозировано максимальное время нахождения аппаратуры в условиях поиска радиоактивных аномалий, и определено влияние уровня радиационной нагрузки на снижение срока службы аппаратуры.

Ключевые слова: поиск радиоактивных аномалий, АНПА, сцинтиллятор, методика оценки стойкости, фактическая стойкость, прогнозируемый срок службы
28-33
Изотопная гамма-установка К-120000: профили мощности экспозиционной дозы и энергетический спектр фотонов

Е.В. Митин1, Е.Н. Некрасова1, В.Н. Ломасов2, Е.А. Голихина3, А.В. Грунин3,
С.А. Лазарев3, А.И. Лоскот4

1ООО «НПЦ «Гранат»
г. Санкт-Петербург, Россия
e-mail: enekrasova@npcgranat.ru
2ФГАОУ ВО «Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого»
г. Санкт-Петербург, Россия
3ФГУП «Российский федеральный ядерный центр – Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики»
Нижегородская обл., г. Саров, Россия
4ФГБВОУ ВО «Военно-космическая академия имени А.Ф. Можайского» МО РФ
г. Санкт-Петербург, Россия

Представлены результаты измерений мощности экспозиционной дозы в заданных областях рабочей камеры гамма-установки, полученные при проведении первичной аттестации. Дополнительно представлены результаты расчетов энергетических спектров фотонов и распределения мощности экспозиционной дозы. Численное моделирование было проведено методом Монте-Карло в 3D-модели, учитывающей реальную геометрию установки. Наблюдается хорошее согласие результатов расчетов с экспериментальными данными.

Ключевые слова: гамма-установка, энергетический спектр, экспозиционная доза, первичная аттестация, метод Монте-Карло.


  • 140080, Московская обл., г. Лыткарино
  • промзона Тураево, строение 8.
  • +7 (495) 663-90-95
  • +7 (495) 663-90-74
  • risi@niipribor.ru