МЕНЮ

Стр.
Выпуск 4, 2022
5-13
Оценка радиационной стойкости оптоволоконных линий на основе халькогенидных стекол

В.В. Герасименко1, Ю.А. Кабальнов2, А.Н. Качемцев1, И.В. Скрипачев1, А.В. Скупов2, Г.Е. Снопатин1, А.Н. Труфанов2, Н.Е. Тупиков2

1Институт химии высокочистых веществ им. Г.Г. Девятых РАН
г. Нижний Новгород, Россия
2Филиал РФЯЦ-ВНИИЭФ «НИИИС им. Ю.Е. Седакова»
г. Нижний Новгород, Россия, e-mail: Kabalnov@niiis.nnov.ru

Проведены исследования радиационной стойкости сульфидно-мышьяковых световодов с окном прозрачности в области среднего и дальнего ИК-диапазонов. Оценивались изменения оптических характеристик световодов при воздействии рентгеновского излучения. Расчет поглощенной дозы выполнялся методом Монте-Карло на основе геометрической модели расположения оптоволокна и источника излучения. При облучении рентгеновскими квантами наблюдался рост поглощения ИК-излучения во всем исследуемом спектральном диапазоне. По результатам исследований показано, что наведенные потери для сульфидно-мышьяковых световодов ниже потерь серийно изготавливаемых кварцевых оптоволоконных линий.

Ключевые слова: волоконно-оптические линии связи, халькогенидные стекла, ИК-диапазон длин волн, радиационная стойкость, рентгеновское излучение, наведенные оптические потери.
14-23
Возможности применения преобразования Уолша-Адамара для анализа распределения сбоев в СОЗУ, возникающих при воздействии импульсного ионизирующего излучения

А.С. Пилипенко1, А.С. Кустов1, Л.С. Зубков1,2

1ФГУП «Российский Федеральный Ядерный Центр – Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики им. академ. Е.И. Забабахина»
г. Снежинск, Челябинская область, Россия
e-mail: A.S.Pilipenko@vniitf.ru
2Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина
г. Екатеринбург, Свердловская область, Россия

Проанализированы особенности распределения сбитых ячеек памяти СОЗУ (карт сбоев СОЗУ), возникающих при воздействии импульсного тормозного и гамма-нейтронного (?-n) излучения. Анализ проведен посредством обработки экспериментальных данных с помощью преобразования Уолша-Адамара, результатом которого является разложение по полному ортогональному базису прямоугольных функций. Показано, что использование такой обработки, по сравнению с разложением по гармоническим функциям (преобразование Фурье), позволяет выявить дополнительные закономерности распределения сбоев. Наличие данных закономерностей обсуждается с точки зрения просадки напряжения питания, которая возникает при импульсном ионизирующем воздействии на токоведущих шинах запоминающих ячеек.

Ключевые слова: одиночные сбои, СОЗУ, карты сбоев, нейтроны, импульсное ионизирующее излучение.
24-30
Моделирование сбоев в ИС при импульсном нейтронном воздействии. Часть 2. Одиночные радиационные эффекты

А.И. Чумаков1,2, Д.В. Бобровский1,2, А.В. Согоян1,2, А.А. Смолин1,2, Д.О. Титовец1,2, С.Ю. Дианков4, К.А. Чумаков5, О.А. Герасимчук1

1Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
2АО «ЭНПО СПЭЛС»
г. Москва, Россия, e-mail: dotit@spels.ru
3ФГКУ «12 Центральный научно-исследовательский институт» Минобороны России
г. Сергиев Посад, Московская обл., Россия
4ФГКУ «14 Центральный научно-исследовательский институт» Минобороны России
5ФГУ «ФНЦ Научно-исследовательский институт системных исследований РАН»
г. Москва, Россия

Представлен подход к моделированию одиночных радиационных эффектов в интегральных схемах (ИС) при воздействии нейтронного излучения. Выделено три диапазона энергий, в каждой из которых проводится оценка энерговыделения в микрообъеме за счет различных механизмов ядерных взаимодействий: упругое и неупругое рассеяние с образованием первично-выбитых атомов, а ядерные реакции с образованием тяжелых вторичных частиц. Представлено сравнение с экспериментом.

Ключевые слова: сбои в ИС, импульсное нейтронное излучение, ионизационная реакция, объемная ионизация, одиночные радиационные эффекты, моделирование, интегрированная ионизационная реакция.
31-37
Оценка погрешности измерения поглощенной дозы МОП-детектором при различных температурах окружающей среды

О.В. Мещуров, Р.Г. Усеинов

АО «Научно-исследовательский институт приборов»
г. Лыткарино, Московская обл., Россия
e-mail: Niip66@bk.ru

Проведены измерения вольт-амперных характеристик и информативного параметра МОП-детекторов поглощенной дозы ионизирующего излучения в диапазоне температур (–60…+60) °С после воздействия гамма-излучения источника 60Со при нормальных климатических условиях и мощности дозы 0,0088 рад(Si)/с. Полученные результаты сравниваются с градуировочной зависимостью информативного параметра детектора от поглощенной дозы. Предложена теоретическая модель зависимости измеряемой детектором дозы от температуры.

Ключевые слова: информационный параметр детектора, температура детектора, относительная погрешность измерения дозы, поверхностные состояния.
38-41
Испытания радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию импульсного гамма-излучения в условиях повышенной температуры

Е.Ю. Бахматов, С.В. Вдовин, Д.В. Койнов, Г.Л. Пикалов, С.С. Улькин

ФГКУ «12 Центральный научно-исследовательский институт» Минобороны России
г. Сергиев Посад, Московская обл., Россия
e-mail: fgu12tsnii@mil.ru

Представлены результаты анализа существующих способов нагрева электрорадиоизделий при радиационных испытаниях. Рассмотрена возможность применения промышленно выпускаемого гибкого нагревателя при испытаниях радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию импульсного гамма-излучения моделирующей установки Транс-4-1. Приведены экспериментальные данные по динамике нагрева радиоэлектронной аппаратуры при атмосферных условиях и в условиях вакуума, а также по ослаблению гамма-излучения гибким нагревателем.

Ключевые слова: радиоэлектронная аппаратура, испытания, импульсное гамма-излучение, нагрев, высокие температуры.


  • 140080, Московская обл., г. Лыткарино
  • промзона Тураево, строение 8.
  • +7 (495) 663-90-95
  • +7 (495) 663-90-74
  • risi@niipribor.ru