На главную страницу Редакционная коллегия Содержания выпусков К сведению авторов Авторская карточка






Стр.

Выпуск 2, 2013 г.

5-7
Порядок взаимодействия предприятий при обеспечении назначенного САС РЭА в условиях воздействия ИИ КП за счет уточнения защищенности ЭКБ в месте установки элементами конструкций КА и блоками РЭА смежных предприятий

Горин Б.М., Каленов В.Г., Мурзин В.Ю., Сумерин В.В.

Приведены особенности включения в техническое задание на разработку аппаратуры космического аппарата требования по назначенному сроку активного существования 10-15 лет.
Ключевые слова: космический аппарат, техническое задание, радиоэлектронная аппаратура, радиационная стойкость.
8-13
Результаты измерений потоков заряженных частиц бортовой аппаратурой космических аппаратов «ГЛОНАСС»

Вагин Ю.П., Вешняков Г.П., Никитин А.О., Чудновский В.С., Чудновский Л.С.

Представлен анализ измерений потоков тяжелых заряженных частиц, полученных бортовой аппаратурой космических аппаратов «ГЛОНАСС». Проведено сравнение полетных данных с нормативными документами по стандартизации ракетно-космической техники.
Ключевые слова: космический аппарат, ионизирующее излучение, галактические космические лучи, тяжелые заряженные частицы.
14-20
Применение теоремы Байеса к оценке радиационной стойкости изделий электронной техники для гипотезы экспоненциального распределения граничной дозы ионизирующего излучения

Сердюк И.М.

Представлено применение теоремы Байеса к гипотезе экспоненциального распределения показателя радиационной стойкости элементов электронной аппаратуры для оценки ее работоспособности по постепенным отказам при статическом воздействии ионизирующего излучения. Эта проблема особенно остро стоит при создании сложных высоконадежных невосстанавливаемых радиоэлектронных систем, предназначенных для длительного функционирования на орбитальных космических аппаратах различного назначения.
Ключевые слова: радиационная стойкость, постепенные отказы, априорная информация, принцип сопряженности, теорема Байеса, апостериорная оценка стойкости.
21-25
Байесовское оценивание радиационной стойкости в случае полной априорной определенности для гипотезы экспоненциального распределения граничной дозы ионизирующего излучения

Сердюк И.М.

Сопряженный выбор априорной информации предполагает наличие такой функции плотности ее распределения, которая в законченном виде байесовского оценивания обеспечивает аналогичную функцию плотности апостериорного распределения. Полная априорная определенность предусматривает существование априорных данных в виде среднего значения показателя стойкости и предварительной оценки его статистического разброса. В качестве такой плотности выбрано двухпараметрическое гамма-распределение. Для случая одновременного присутствия указанных признаков разработан инженерный алгоритм байесовского оценивания радиационной стойкости приборов.
Ключевые слова: теорема Байеса, априорная плотность распределения, апостериорная плотность распределения, точечная оценка стойкости, интервальная оценка стойкости, доверительная вероятность, экономическая эффективность байесовского оценивания.
26-31
Использование алгоритма Байесовского оценивания для определения фактической радиационной стойкости биполярных полупроводниковых ИМС

Сердюк И.М.

Представлен пример использования байесовского метода для апостериорного определения вероятностных показателей радиационной стойкости на примере двух типов биполярных ИМС, статистика радиационной деградации которых была подробно исследована на моделирующей установке низкоинтенсивного излучения с применением автоматизированной измерительной системы для статистического тестирования радиационной деградации определяющих параметров электронных приборов. Численно показаны особенности применения байесовского алгоритма: на этапах выбора сопряженного распределения случайного параметра, планирования радиационных испытаний с целью получения функции правдоподобия, апостериорной вероятностной оценки радиационной стойкости и анализа технико-экономической эффективности практического применения байесовского подхода.
Ключевые слова: байесовский метод, апостериорная вероятность, биполярная интегральная микросхема, низкоинтенсивное излучение, автоматизированная измерительная система.
32-41
Использование сопряженного выбора априорной информации для Байесовской оценки радиационной стойкости изделий электронной техники в случае неполной априорной определенности экспоненциальной модели распределения граничной дозы ионизирующего излучения

Сердюк И.М.

Исследован байесовский подход к оценке вероятности безотказной работы (ВБР) изделий электронной техники при отсутствии априорной информации в виде плотности распределения определяющего параметра стойкости граничной дозы облучения. Рассмотрены два типовых случая из множества возможных на практике ограничений необходимой полноты априорной информации, а именно: априорная информация представлена оценкой среднего значения ВБР или соответствующим значением интенсивности отказов; априорная информация представлена доверительным интервалом изменения ВБР или соответствующих изменений значений интенсивности отказов. В обоих случаях предполагается, что эти оценки относятся к сопряженному выбору априорной информации. Приведен численный пример использования разработанного байесовского алгоритма.
Ключевые слова: байесовский метод, апостериорная вероятность, неполная определенность априорной информации, типовые случаи нехватки априорных данных, принцип минимакса априорной дисперсии.
42-49
Использование информационного критерия для Байесовской оценки радиационной стойкости изделий электронной техники при недостатке априорных данных в экспоненциальной модели распределения поглощенной дозы ионизирующего излучения

Сердюк И.М.

Представлен байесовский алгоритм вероятностной оценки радиационной стойкости электронной техники при информационном принципе выбора априорного распределения. Приведен численный пример, произведена оценка эффективности информационного выбора априорного распределения для экспоненциальной модели воздействия ионизирующего излучения.
Ключевые слова: байесовское оценивание радиационной стойкости, априорная и апостериорная плотность распределения, информационный принцип, энтропия, «хи-квадрат» распределение, точечная и интервальная оценка стойкости, доверительная вероятность.
50-53
Применение циклических радиационно-термических испытаний дляопределения функции раcпределения вероятности отказов ИМС

Чубунов П.А.

Обоснована возможность применения ионизирующего излучения в качестве ускоряющего фактора при проведении форсированных испытаний ИМС. Изложена методика и результаты форсированных испытаний циклами «облучение – наработка на отказ при повышенной температуре».
Ключевые слова: ускоренные испытания, ионизирующие излучения, интегральная микросхема, старение, вероятность отказа.
54-61
Моделирование сбоеустойчивости основных узлов статического ОЗУ, выполненного по технологии объёмного кремния 65 нм

Долотов П.С., Горбунов М.С., Бобков С.Г.

Проведен анализ сбоеустойчивости основных элементов блока ОЗУ, выполненного по КМОП-технологии объемного кремния с проектными нормами 65 нм. Моделирование производилось средствами SPICE-подобного симулятора с использованием параметрического анализа. Определены величины критических зарядов для внутренних узлов дешифратора адреса, схемы выборки, усилителя чтения и буфера записи. По результатам работы сделаны выводы о необходимости повышения сбоеустойчивости наиболее уязвимых частей схемы.
Ключевые слова: одиночные сбои, ОЗУ, дешифратор адреса, усилитель чтения.
62-63
Оценка сбоеустойчивости микропроцессора 1900ВМ2Т, оптимизированного для применения в условиях воздействия факторов космического пространства, при воздействии тяжёлых заряженных частиц

Антонов А.А., Василегин Б.В., Васильев А.Л., Клишин А.В., Чумаков А.И., Яненко А.В.

Представлены результаты экспериментальных исследований чувствительности микропроцессора 1900ВМ2Т, изготовленного по КМОП КНИ-технологии со сбоеустойчивыми ячейками памяти, к воздействию тяжёлых заряженных частиц.
Ключевые слова: КНИ-микропроцессор, DICE-ячейки, одиночные эффекты.
64-66
Деградация параметров гетероструктур AlGaInP при облучении быстрыми нейтронами и гамма-квантами

Градобоев А.В., Орлова К.Н., Асанов И.А.

Представлены результаты исследования радиационной стойкости гетероструктур AlGaInP с множественными квантовыми ямами на примере светодиодов с длиной волны излучения 623 нм при облучении быстрыми нейтронами и гамма-квантами 60Со в пассивном режиме питания. Установлено, что мощность излучения диодов при облучении уменьшается пропорционально дозе облучения и обратно пропорционально величине рабочего тока, при этом уровень ее снижения уменьшается по мере роста плотности рабочего тока, используемого при измерении.
Ключевые слова: гетероструктуры AlGaInP, светодиоды, быстрые нейтроны, гамма-кванты.
67-68
Исследование стойкости интегральных микросхем серии 1564 к воздействию импульсного и статического гамма-излучения

Баньковский М.В.

Представлены обобщенные результаты экспериментальных исследований стойкости интегральных микросхем к воздействию импульсного и статического гамма-излучения.
Ключевые слова: микросхемы, импульсное и статическое гамма-излучения, стойкость.
69-71
Исследование стойкости усилительных модулей СВЧ на нитрид-галлиевых полевых транзисторах с затворами на барьере Шоттки к воздействию специальных факторов

Гагарин С.В.

Представлены результаты экспериментальных исследований усилителей мощности СВЧ к воздействию импульсного ионизирующего излучения, моделирующего ионизирующее излучение космического пространства.
Ключевые слова: модуль СВЧ, полевой транзистор Шоттки, импульсное ионизирующее излучение.
72-73
Градуировка мониторных каналов на исследовательских реакторах

Базака Ю.Г., Комаров Н.А., Пикалов Г.Л., Терешкин И.С., Чаплыгин А.А.

Приведен алгоритм градуировки мониторных каналов с детекторами СНМ-14 и КНТ-54 на реакторе ПРИЗ-М. Методика основана на сравнении результатов измерений выхода нейтронов из реактора и образцового радионуклидного источника.
Ключевые слова: исследовательские реакторы, мониторные каналы, градуировка.
74-77
Структура универсального диагностического комплекса для сильноточных ускорителей электронов

Пономарёв А.В., Иващенко Д.М., Мордасов Н.Г.

Проведено исследование особенностей регистрации параметров работы сильноточных ускорителей электронов ФГУП ««НИИП»». Проанализированы варианты реализации диагностического комплекса на основе существующих систем и средств разработки, после чего выбрана структура диагностического комплекса и способ её реализации. Выбранная структура обеспечивает применимость диагностического комплекса на любом типе ускорителей ФГУП ««НИИП»», масштабируемость по типам и количеству сигналов, а также легкое изменение/добавление алгоритмов диагностики режима работы ускорителей.
Ключевые слова: сильноточные ускорители электронов, структура диагностического комплекса, цикл работы.
78-81
Комплексная диагностика ускорителя УИН-10

Иващенко Д.М., Мордасов Н.Г., Пономарёв А.В., Филатов Н.И.

Представлены структура, организация и программное обеспечение системы диагностики ускорителя УИН-10 с использованием цифровых регистраторов различных типов. Система диагностики обеспечивает получение информации об энергетических, амплитудно-временных и интегральных харак­теристиках электромагнит­ного импульса, энергетических потерях в тракте системы формирования, а также оперативное определение спектрально-энергетических характеристик электронного пучка на входе в мишень и тормозного излучения в облучательном объёме.
Ключевые слова: ускоритель электронов УИН-10, комплексная система диагностики, испытания на радиационную стойкость.
82-83
Система управления испытательного комплекса УИН-10П

Микулин И.Н., Иващенко Д.М.

Разработана система управления испытательным комплексом УИН-10П, позволяющая контролировать процесс зарядки генераторов импульсных напряжений в установках УИН-10 и ЭМИ, функционирование основных узлов и блокировок в различных режимах работы, а также синхронизацию запусков установок  комплекса.
Ключевые слова: испытательный комплекс УИН-10П, система управления комплексом, пульт управления.
84-86
Формирование поля излучения выведенным в атмосферу трубчатым пучком электронов

Землянский А.П., Мордасов Н.Г., Тулисов Е.В.

В условиях ускорителя ЛИУ-10 трубчатый пучок электронов через фольгу, установленную в магнитной линзе, выведен в атмосферу. Исследованы угловые характеристики и параметры сечения пучка электронов на выводном окне ускорителя в зависимости от энергии электронов и индукции магнитного поля линзы. Определён характер распределения дозы и мощности дозы в поле электронного излучения при заданном режиме работы ускорителя.
Ключевые слова: ускоритель электронов ЛИУ-10, трубчатый пучок электронов, поле излучения.
87-92
Разработка микромонитора для испытаний микроэлектроники на стойкость при воздействии тяжёлых заряженных частиц

Анохин М.В., Галкин В.И., Дитлов В.А., Дубов А.Е., Королёв А.Г., Чабанов В.М.

Рассмотрены вопросы применения стохастической концепции при решении проблем радиационной стойкости электроники космического применения и, в частности при решении прикладных задач, связанных с определением стойкости СБИС при воздействии тяжёлых заряженных частиц. Приведены соображения по выбору типа монитора сложного по составу радиационного поля на космических аппаратах и аналогичного поля для проведения соответствующих наземных испытаний. Особенности требований предъявляемых к монитору исключают возможность применения многих типов современных мониторов. Сделан вывод, что наилучшая система для микромонитора радиационного поля как на космических аппаратах, так и наземных испытательных стендов должна состоять из композиции КМОП и МДП матричных структур.
Ключевые слова: радиационная стойкость, поле ионизирующих излучений, тяжёлые заряженные частицы, монитор, КМОП-матрица, МДП, локальная доза в треке.